Nhà cung ứng: Công ty Malvern Panalytical
Phân tích ứng suất dư bằng phương pháp sử dụng nhiễu xạ tia X.
Phần mềm Stress của Malvern Panalytical dành riêng cho phân tích nhiễu xạ tia X (XRD) về ứng suất dư. Các giá trị được tính theo phương pháp nổi tiếng single-{hkl} sin²ψ. Các giá trị mặc định có thể tự cấu hình và khả năng tính toán lại kết quả ngay lập tức dựa trên sự thay đổi của các tham số đầu vào giúp Stress trở nên lý tưởng đối với cả các ứng dụng nghiên cứu và phân tích thông thường.
Mã sản phảm:
Điện, điện tử, công nghệ thông tin
Hãy nhập từ khóa tìm kiếm.